開關(guān)電源的外觀檢查

外觀檢查通常采用目檢，也可以使用1.5~10倍的放大鏡或者光學顯微鏡。外觀檢查的作用之一是驗證工藝失效的PCB、電子零件和焊點與標準和規(guī)范的一致性；外觀檢查的作用之二是尋找可能導致失效的問題點。例如，電源適配器、充電器組裝成品后放置一段時間外殼有裂縫，則可能是PC/ABS兩種原材料樹脂的相容性沒處理好，容易開裂，或是工藝方面，產(chǎn)品加工過程中，沒有很好消除內(nèi)應(yīng)力。外引線之間如果有異物，則異物可能導致引線之間的短路。PCB表面有機械損傷，則可能導致PCB走線斷裂引起開路等。

　　由于開關(guān)電源/product/index.html的失效分析可能要做切片和去封裝等破壞性分析工作，外觀檢查的對象不再存在，因此在進行外觀檢查時要做詳細記錄，最好拍些圖片。作為初步檢查，在檢查外觀之前，如果對目標隨隨便便地進行處理就有可能失去寶貴的信息。作為外觀檢查程序的一部分，首先要將其全部信息標記記錄下來，即詳細記錄PCB廠家和電子零件廠家的名稱、型號、規(guī)格、批次、生產(chǎn)日期等信息。其次，應(yīng)特別注意以下幾方面內(nèi)容的檢查:

　　1.機械損傷：來自電子零件的引腳、根部和封裝密封縫的開裂、劃痕、疵點；焊點和PCB表面的機械損傷痕跡。

　　2.器件密封缺陷：來自電子元器件的引腳與玻璃、陶瓷和塑膠的結(jié)合處，以及根部的黏附部位和密封縫。

　　3.器件引腳鍍層缺陷：來自電子元器件表面的鍍層不均勻、氣泡、針孔和銹斑。

　　4.PCB表面的污染或黏附物：主要來自PCB板加工過程中。

　　5.器件的熱損傷或電氣損傷情況。

　　6.PCB的分層和爆裂等。

　　7.PCB表面處理層的異常。

　　8.焊點有沒有發(fā)生重熔和開裂、虛焊等。

　　在進行開關(guān)電源可靠性設(shè)計時，要在工藝文件中對生產(chǎn)、保管、存儲和運輸?shù)冗^程提出明確的控制要求，對可疑的部分，必須進一步用能獲取信息數(shù)據(jù)的測量儀器進行檢查。全部的重要信息都應(yīng)用顯微鏡及錄像設(shè)備進行攝影記錄